SJ 50033.102-1995 GD218型InGaAs／InP PIN光电二极管详细规范
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ID： |
DC0B9946305D4696989266E9F0B71FAA |
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文件大小(MB)： |
0.73 |
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页数： |
10 |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,工 5999 SJ 50033/102-95,GD 218 型 !nGaAs/InP,PIN光电二极管详细规范,Detail specification for,InGaAs/InP PIN photodiode for type GD 218,1996-06ハ4发布1996-10-0I 实施,中华人民共和国电子工业部 批准,中华人民共和国电子行业军用标准,GD 218 型 !nGaAs/InP PIN 光电二极管,详细规范,SJ 50033/102-95,Detail specification for InGaAs/InP,PIN photodiode for type GD 218,1范,1.I主题内容,本规范规定了军用GD 218型!nGaAs/InP PIN光电二极管（以下简称器件）的详细要求,1.2适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,2引用文件,GB 12507—90,GJB 33—85,GJB 128—86,SJ 2354—83,SJ/Z9014.2—87,光纤光缆连接器总规范,半导体分立器件总规范,半导体分立器件试验方法,PIN、雪崩光电二极管测试方法,半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件,3要求,3.1 详细要求,各条要求应符合GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构应符合GJB 33和本规范的规定。芯片为背照式,器件由光电二极管,带,活动连接器的尾纤所组成。外形尺寸应符合图1的规定,中华人民共和电子工业部1996.06丒14发布1996-10-01 实施,1,SJ 50033/102-95,图2引出端排列,3.2.3 封装形式,按本规范提供的产品,应采用全密封金属外壳金属化耦合封装,如图3所示,图3封装形式,3.2.4 引线长度,可按合同的规定（见6.2条）提供引线长度不同于图1规定的器件,输入光纤（缆）长度也可按合同规定,3.3 引线材料及涂层,引线材料为可伐合金,引线涂层应镀金。也可按照合同要求（见6.2条）镀锡,3.4 带活动连接器的多模光缆,带活动连接器的多模光缆应符合GB 12507的规定,SJ 50033/102-95,3.5最大额定值和主要光电特性,3.5.1最大额定值,Vr /f,(V) (mA),10.06 10.0,Plot Ee T2 amb Tstg,(mW) (mW) (V) （匕） （匕）,15.0 丒 4.0 260 —25 ~ 70 -25-70,对于输入尾缆,齡 最小弯曲半径r = 4.0cm,（离缆端至少2cm以上）;,b丒沿着光缆轴向的最大拉カF=10N,时间Imin,3.5.2主要光电特性（TambH25P）,特 性,符号: 条 件,极限值,单 位,最小最大,暗电流Ir（d） Ec = 0, Vr = 5V 1.0 nA,高温下的暗电流ElO, Vr = 5V, T8mb =70匕50 nA,不同温度下，暗电流与反向电压,的典型关系曲线,1,见图4,总电容Ctot VR = 5 V, /= 1MHz 1.5 pF,总电容与反向电压的关系曲线见图5,灵敏度s,ス p=1.3 び m,Ee=l ド W,Vr = 5V,0.70 g A/g W,上升时间VR = 5V, AP= 1 1.0 ns,下降时间h Ri =500, E = ImW 1.0 ns,3.6标志,器件的标志应符合GJB 33的规定,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按本规范的规定,4.1.1 表2Al分组进行检验和试验的器件可以用于A2、A3、A4和A7分组的检验和试验;通,过A组各分组检验和试验的器件,可以作为检验和试验抽样的母体,鉴定试验总样品量（指通,过A组检验批的数量）至少应等于抽样数的L 5倍,抽样表采用GJB 597中的小数量抽样表,4.1.2 表3B1分组、B4分组的检验和试验可以采用光电特性不符合3.5.2条要求的器件,4.1.3 表3B3分组中的器件可继续按表4c6分组的规定进行试验,直至总试验时间达到,lOOOho,4.1.4 按表4cl分组进行检验的器件可以用于表4C2分组的检验和试验°,4.2筛选,器件应按GJB 33和本规范表1中规定的步骤和条件进行百分之百的筛选试验并按,3,4,SJ 50033/102-95,0.8 一 一一 ?一一 丒丒一「,0 5 10 VR(V),图5总电容与反向电压的典型关系曲线,表1筛选的步骤和条件,检验和试验符号方 法条 件,极限值,卜,单位,最小最大,1.内部目验,（封帽前）,GJB 128, 2074,1,2.高温寿命,（不工作）,GJB 128, 1032 Tatg = 70 匕 t = 72h,3.热冲击,（温度循环）,GJB 128, 1051 除最高温度70C,最低温,度ー25匕,极限温度下的,试验时间30mm,循环次,数10次タト,其余按试验,条件A,5,SJ 50033/102-95,检验和试验符号 方 法,5.密封GJB 128, 1071,续表1,极限值,条 件单位,试验条件C,氟油温度,粗检漏70X3 〇,6.中间光电参,数测试,暗电流,灵敏度,7.电老化,SJ 2354.3,S SJ 2354.6,Vr = 5V,Xp- l,3^m, &= 1卩 Wy,Vr = 5V,0.70,1.0 nA,M A/r W,ア皿b = 70匕,Vr = 6V, t= 96h,GJB 128, 1038,试验条件B,8.最后测试,暗电流△^R(D) SJ 2354.3,灵敏度△ S ……
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